DaVinci 112测试插座扩展了 "DaVinci "系列产品线，为测试ASIC（特定应用集成电路）的复杂功能提供了创新的测试解决方案。
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半导体测试
半导体测试
提供全球最全面、基于弹簧探针技术的标准解决方案，包含：接触器、连接器、插入器、半导体测试座和ATE接口。我们经市场认证的高品质的标准和定制产品将完美解决客户的特定需求。
C系列H-Pin®插座
C系列插座是一种带有翻盖式盖子的模块化老化测试插座。该插座外形小巧，能够容纳各类封装，封装体尺寸范围从0.5mm到12mm不等，并且每块老化测试板上的插座密度达到了最优。
ES Micro系列H-Pin®测试插座
ES微型系列测试插座是老化插座领域的一项技术革新，它采用双锁扣翻盖式盖子，当盖子被打开时，可在被测器件（DUT）上产生共面压力。
ESJ系列H-Pin® 测试插座
ESJ系列测试插座是一款高性能老化测试插座，它采用双锁扣翻盖式盖子，当盖子被打开时，可在被测器件（DUT）上产生共面压力。
Galileo导电橡胶测试插座
（伽利略）是一款出色的“快速周转且通用”的应用导电橡胶技术的测试插座，提供行业领先的电气性能和快速的交付周期。
Kelvin 弹簧探针
史密斯英特康最新研发的创新且稳健的Kelvin（开尔文）弹簧探针技术，适用于低至 0.35 毫米间距的Kelvin测试应用。