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Levan导电胶测试插座

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Levan导电胶测试插座
  • 适用于BGA、LGA、QFN和其他封装器件
  • 射频带宽 23-108 GHz
  • 信号路径≤0.9 mm 
  • 能够实现阻抗匹配信号
  • 持续稳定的接触电阻
  • 低电感
  • 基于测试应用的优化设计  
  • 三温插座设计,支持-55°C至+160°C
  • 可使用同一插座进行手动测试、台架测试和HVM量产测试

Levan 导电胶测试弹性插座专为精密应用而匠心打造。其独特的弹性网格结构内含导电柱,确保在各类器件测试中均能获得精准且一致的测试结果。

凭借高带宽和低电感的卓越性能,Levan在测试系统中实现了“电气隐形”效果,不仅能有效防止被测器件(DUT)的焊球受损,更提供了出色的电气与机械优势。

Levan 将测试标准从工程验证阶段提升至大规模量产水平,兼具卓越的灵活性与成本效益。无论是 BGA、LGA、QFN 还是其他封装器件,Levan 都是您理想的测试解决方案。

  • 可定制化设计,满足各类需求
  • 实现电气隐形效果,确保信号完整性
  • 阻抗匹配
  • 卓越的直流性能
  • 适配性强,有助于提升良率与产品寿命
  • 易于清洁
  • 高精密度的插座外壳,具备稳定可靠的机械性能
  • 支持现场维修,可轻松替换Levan弹性部件
  • 兼容现有PCB插座尺寸与测试硬件,为客户节约成本
  • 相比探针插座,交期更短