D系列H-Pin®老化测试插座 | Smiths Interconnect 史密斯英特康中国官网

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支持QFN、QFP、LCC、SOlC、BGA和LGA 等多种封装类型
散热器
HAST排气功能
集成热控系统，包含加热器和传感器
反向基准平面
耐高温材料，适用于200°C以上的高温测试应用场景

D系列老化测试插座是一款高性能老化测试插座，带有翻盖式盖子，可配装加热器和热敏传感器。与史密斯英特康老化测试产品组合中的其他插座系列一样，D系列插座具有相同的可配置特性。

设计灵活性，内部制造的工具与模具，使得测试成本更低。
丰富的组件库和可配置选择
凭借模块化组件、自动化组装和短交货期这些优势，已经有效降低了测试成本。
具备卓越的电气性能，能够提供宽广的射频带宽。