优势：
- 灵活适配设计，满足多样化需求
- 超长接触寿命，通过50万次插拔寿命
- 阻抗可调，支持系统匹配或自定义设定
- 卓越的直流性能
- 专利绝缘金属插座外壳，实现最佳信号完整性与结构强度
- 精密加工插座外壳，确保稳健的机械性能
- 支持现场维修，可单独更换探针或整组阵列
- 在线清洁功能，系统运行时可采用代用清洁方案
- 兼容现有PCB插座尺寸与测试硬件，帮助客户节省成本
- 交货周期更短，客户综合购买成本更低
当前位置
DaVinci Gen V高速测试插座
DaVinci Gen V 是该系列达芬奇高速测试插座系列产品线中的最新旗舰产品-第五代达芬奇高速测试插座，专为AI高性能芯片测试应用设计。
新一代高性能半导体——从先进消费级SoC芯片、GPU显卡到人工智能加速器及数据中心处理器——对带宽与速度提出了空前复杂的要求。然而随着数据速率攀升，测试过程中的信号完整性保障难度呈指数级增长。即便微小的阻抗失配或信号衰减都可能引发误判故障、降低良品率并延误关键产品上市周期。
为攻克这些挑战而设计的DaVinci Gen V高速同轴测试插座，为尖端ASIC芯片提供创新的全功能测试解决方案。其精密设计可确保无与伦比的信号完整性表现，在实现出色稳定性能的同时彻底消除测量误差。
通过实现对高带宽芯片的可靠验证，DaVinci Gen V 高速测试插座能帮助我们的客户和测试合作伙伴显著缩短芯片开发周期、保障良品率，并确保在严苛的应用场景中实现稳健性能。
- 适用于 BGA、LGA 及其他封装形式
- 采用均质合金的弹簧探针技术，表面镀金，提升接地效果
- 射频带宽 > 84 GHz @ -1dB 插入损耗
- 短信号路径，测试高度仅 4.90 mm
- 阻抗调校精确匹配系统需求
- 接触电阻稳定一致，平均为 55 毫欧
- 高共面性兼容设计
- 三温测试座结构，支持 -55°C 至 +125°C 的全温区测试
- 同一款座可用于手动测试、台式测试及大批量量产测试
- 顶部与底部模块采用新型制造工艺