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Q系列H-Pin®测试插座

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  • 散热器
  • HAST排气功能
  • 集成热控系统,包含加热器和传感器
  • 反向基准平面
  • 被测器件下最大零件净空区
  • 2或3片式系统
  • 耐高温材料,适用于200℃以上高温应用场景
  • H-Pin®接触技术
  • 此外,该系列插座还采用了H-Pin®接触技术,具有宽广的射频能力和出色的直流特性。
  • Q系列测试插座具有下列特性:高频、大电流、高温、低电感和低损耗。
  • 这些特性有助于降低测试成本。

Q系列测试插座支持中型到大型封装。

Q系列测试插座主体和盖子是整体模压成型,可满足各种加速寿命测试应用的严苛要求。 盖子上可选配散热器,以实现精确热响应。通过设计模拟方式,空气通道得以优化,以确保在整个测试过程中保持准确的温度。

  • 行业认可的设计、内部工具与模具制造以及机械加工(全自动化组装)
  • 丰富的组件目录和可配置选择
  • H-Pin®使得此系列插座展现出了绝佳的直流特性