- 适用于LGA、QFN、QFP及其他封装器件
- 刮擦水平移动可清除器件焊盘表面的氧化层
- 信号路径短
- 三温插座设计，支持-55°C至+150°C
- 配置设计灵活，可集成至现有硬件装置中
- 专为手动测试、台架测试及批量测试设计
- 绝缘外壳采用高性能聚酰亚胺材料
- 插座尺寸紧凑，节省空间
当前位置
Kepler刮擦测试插座
Kepler接触技术巧妙融合了悬臂刮擦针的清洁效能与弹簧探针的通用模块化优势。
该技术独特的机械结构使探针在下压过程中产生受控的水平位移，能有效去除芯片表面的氧化层，从而在确保引脚与探针头建立稳定、低阻抗电气连接的同时，完全避免对PCB基板造成任何物理损伤。
- 接触寿命长，磨损低，经测试插拔次数超50万次
- 为雾锡(Matte Tin)或镍钯金(NiPdAu)镀层焊盘提供可靠稳定的接触，实现低且稳定的接触电阻
- 卓越的信号完整性
- 适用于广泛的测试应用场景
- 匹配现有PCB插座尺寸及测试硬件，为客户节省成本
- 可现场维修，易于清洁和维护
- 低介电常数、低线性热膨胀系数(CLTE)、卓越的挠曲模量
- PCB顶层器件可靠近被测器件放置，以获得更佳的信号性能并减少信号损耗"