
- 垂直压力板
- 散热器
- HAST排气功能
- 集成热控系统,包含加热器和传感器
- 反向基准平面
- 被测器件下最大零件净空区
- 2或3片式系统
- 耐高温材料,适用于200℃以上高温应用场景
- H-Pin®接触技术
- 此外,该系列插座还采用了H-Pin®接触技术,具有宽广的射频能力和出色的直流特性。
- K系列插座具有下列特性:高频、大电流、高温、低电感和低损耗。
- 这些特性有助于降低测试成本。
K系列测试插座设计独特,在盖子关闭后,通过二阶段杠杆,会对被测器件(DUT)施加均匀的压力。 这是为了确保在关闭盖子时,压板不会在器件顶部滑动,避免划伤器件。 对于未封装的芯片产品或汽车应用来说尤为重要,因为测试后合格/不合格验收标准的其中一项就是外观检测。 垂直杠杆动作不会增加插座的整体占用面积,这样在老化测试板上可实现最大密度的安装分布,并且在某些情况下,与其他翻盖插座相比,还减小了整体占用面积。 K系列测试插座还有一个优点,由于其外形轮廓较高,插座内部可实现气流流通,而且较大的气流通道有助于插座内部保持准确的温度。