ESJ系列H-Pin® 测试插座 | Smiths Interconnect 史密斯英特康中国官网

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弹簧加载式探针头
散热器
HAST排气功能
集成热控系统，包含加热器和传感器
反向基准平面
被测器件下最大零件净空区
耐高温材料，适用于200℃以上高温应用场景

ESJ系列测试插座是一款高性能老化测试插座，它采用双锁扣翻盖式盖子，当盖子被打开时，可在被测器件（DUT）上产生共面压力。 ESJ系列测试插座融合了H-Pin® 接触专利技术，用途非常广泛，同一插座可用于多种应用需求和测试场景。

凭借配置可选的设计、内部制造的工具与模具，使得交货期较短。
丰富的组件类目，降低了测试成本。
模块化翻盖设计，能够满足不同终端用户的配置需求。
具备卓越的电气性能，能够提供宽广的射频带宽。