- 弹簧加载式探针头
- 散热器
- HAST排气功能
- 集成热控系统，包含加热器和传感器
- 反向基准平面
- 被测器件下最大零件净空区
- 耐高温材料，适用于200℃以上高温应用场景
当前位置
ES系列H-Pin®测试插座
ES系列测试插座扩展了老化测试插座的应用范围。 其模块化盖体结构能够承受高达1千瓦的功率，并通过热模拟方式进行了优化，以确保无论在液冷还是风冷的条件下，都能具备开箱即用的卓越性能。 借助多种先进的制造技术和业界领先的自动化技术，我们实现了更低的测试成本。 史密斯英特康独有的H-Pin®技术 ，确保我们的测试插座可用于广泛的应用场景，除了常规的老化测试应用场景外，还可用于自动测试设备（ATE）和系统级测试（SLT） 等功能测试场景。 ES系列测试插座可与所有先进的老化测试系统配合使用。 随着适配性的提升，此系列老化测试插座可为客户创造尖端技术价值。
- 凭借配置可选的设计、丰富的工具类目、模具制造、机械加工、3D打印以及装配自动化等，史密斯英特康可在较短交货期内，为客户提供质量一流、价格合理的产品。
- 我们拥有大量标准组件类目，可为客户提供各种经实地测试的设计方案。
- 该测试插座是双锁扣式翻盖结构，这样在高引脚数应用中操作此插座时非常简便。
- 通过热仿真、电气仿真、蒙特卡洛模拟分析和有限元分析（FEA）等手段，我们可为客户提供开箱即用的解决方案。