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ES Micro系列H-Pin®测试插座

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  • 支持LGA、BGA、和叠层封装芯片类型
  • 弹簧加载式探针头
  • 散热器
  • HAST排气功能
  • 集成热控系统,包含加热器和传感器
  • 反向基准平面
  • 被测器件下最大零件净空区
  • 耐高温材料,适用于200°C以上的高温测试应用场景

ES微型系列测试插座是老化插座领域的一项技术革新,它采用双锁扣翻盖式盖子,当盖子被打开时,可在被测器件(DUT)上产生共面压力。 ES微型系列测试插座融合了H-Pin®接触专利技术,在最小的空间内展现出了市场领先的电气性能,从而在老化测试板上实现了尽可能高的平行度。 该系列测试插座与标准加热器和温度传感器相兼容。

  • 凭借配置可选的设计、内部制造的工具与模具,使得测试成本更低。
  • 丰富的标准部件类目,降低了成本与交货期。
  • 该款测试插座是双锁扣式翻盖结构,这样在操作此插座时非常简便,也为翻盖操作预留了空间。
  • 具备卓越的电气性能,能够提供宽广的射频带宽。