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- 芯片器件触点间距:0.35mm 间距及以上
- 工作温度范围:-55°C 至 120°C
- 适用芯片封装:BGA、WLCSP、QFN
- 针到针尖端距离为 0.07mm-0.14mm
- 插拔次数:>500,000
- 创新的斜面偏移尖端允许更紧密的中心,距芯片引脚中心低至 0.125 毫米
史密斯英特康最新研发的创新且稳健的Kelvin(开尔文)弹簧探针技术,适用于低至 0.35 毫米间距的Kelvin测试应用。该探针独特的凿尖设计为物联网、汽车,手机芯片等关键应用测试提供可靠、稳定的接触电阻,实现精准的测量性能。
Kelvin 探针头设计应用于标准阵列测试插座或Volta 晶圆级别探针头( Volta WLCSP) ,提供稳健、易于维护、长寿命的测试解决方案。此外,Kelvin探针使用史密斯英特康专有的均质合金进行优化,增加探针使用寿命,以提供适用于量产的测试解决方案。 利用史密斯英特康先进的制造能力和设备,Kelvin探针的针尖间距仅为 70μm,PCB板Pad的间距为 250μm。Kelvin系列涵盖 0.35 毫米及以上的芯片器件引脚间距。随着行业对精密模拟、电源和 RF 测试的要求不断提高,史密斯英特康对我们的 Kelvin 产品系列进行了创新,以提供最准确的测试,以实现尽可能高的测试良率。
Pitch |
0.35mm (Full Matrix) |
0.40mm (Full Matrix) |
0.40mm (QFN Pad) |
0.50mm (Full Matrix) |
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Tip to Tip (Device) |
0.07mm | 0.07mm | 0.10mm | 0.14mm |
Pin to Pin (PCB) |
0.25mm | 0.25mm | 0.40mm | 0.35mm |
Pin P/N | 851-1003350-H00 | 623-0248-H13 | 101851-001 |